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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2012.10
- 수록면
- 809 - 814 (6page)
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본 논문은 멀티레벨을 가지는 홀로그래픽 저장 장치에서 EM (Expectation-maximization) 알고리즘을 이용한 적응 문턱전압검출기를 제안한다. 멀티레벨을 이용한 홀로그래픽 저장 장치의 경우 DC 오프셋의 정도에 따라 비적응 문턱전압검출기의 성능에 매우 심각한 영향을 미친다. EM 방법은 채널을 통과한 데이터를 이용해 Expectation step과 maximization step을 반복하면서 평균과 분산을 추정하는 방법이다. DC 오프셋이 있는 상황에서 제안된 방법을 적용하여 문턱값을 찾아내서 검출한 결과 일정한 한도 내의 DC 오프셋의 경우는 DC 오프셋이 없는 경우와 동일한 성능을 보였다.
목차
요약
ABSTRACT
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 홀로그래픽 채널
Ⅲ. Expectation-Maximization 방법
Ⅳ. 실험 결과
Ⅴ. 결론
참고문헌
참고문헌 (14)
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2. [학술지(정기간행물)] - U. Wachsmann / 1999 / Multilevel codes: theoretical concepts and practical design rules / IEEE Trans. Info. Th 45 (4) : 1361 ~ 1391
3. [학술지(정기간행물)] - J. Kim / 2010 / Error correcting 4/6 modulation codes for holographic data storage / Jpn. J. Appl. Phys 49 (8) : 08KB04 ~
4. [학술지(정기간행물)] - A. P. Dempster / 1977 / Maximum likelihood from incomplete data via the EM algorithm / J. R. Stat. Soc 39 (1) : 1 ~ 38
5. [학술지(정기간행물)] - L. E. Baum / 1970 / A maximization technique occurring in the statistical analysis of probabilistic functions of markov chains / Ann. Math. Stat 41 (2) : 164 ~ 171
2. [학술지(정기간행물)] - U. Wachsmann / 1999 / Multilevel codes: theoretical concepts and practical design rules / IEEE Trans. Info. Th 45 (4) : 1361 ~ 1391
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5. [학술지(정기간행물)] - L. E. Baum / 1970 / A maximization technique occurring in the statistical analysis of probabilistic functions of markov chains / Ann. Math. Stat 41 (2) : 164 ~ 171
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