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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
Myungchul Yoon (Dankook  University)
저널정보
대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.15 No.2
발행연도
2015.4
수록면
177 - 183 (7page)

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A high speed VLSI digital Winner-Take-All (WTA) circuit called simultaneous digital WTA (SDWTA) circuit is presented in this paper. A minimized comparison-cell (w-cell) is developed to reduce the size and to achieve high-speed. The w-cell which is suitable for VLSI implementation consists of only four transistors. With a minimized comparison cell structure SDWTA can compare thousands of data simultaneously. SDWTA is scalable with O(mlog n) time-complexity for n of m-bit data. According to simulations, it takes 16.5 ns with 1.2V-0.13 mm process technology in finding a winner among 1024 of 16-bit data.

목차

Abstract
Ⅰ. INTRODUCTION
Ⅱ. SIMULTANEOUS DIGITAL WTA CIRCUIT
Ⅲ. EXPERIMENTS
Ⅳ. CONCLUSIONS
REFERENCES

참고문헌 (20)

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