Design for Testability

유영갑

한국통신학회 워크샵

1986 .01

Testability를 이용한 검사패턴 생성에 관한 연구 ( A Study on the Test Pattern Generation Using Testability )

김진문 ,  송원국 ,  이강현 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1990 .07

Design for Testability를 위한 검사방식

이강현 ,  김용득

전자공학회지

1992 .01

CMOS Complex Gates의 테스트 생성 알고리즘 ( A Test Generation Algorithm for CMOS Complex Gates )

조상복 ,  임인칠

전자공학회지

1984 .09

Accurate Current Model for CMOS Gates

Jyh He ,  ng Wang ,  Jen Teng Fan 외 1명

JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1993 .01

신호선의 상관관계를 고려한 개선된 테스트용이도 분석 알고리즘

김윤홍

한국산학기술학회 논문지

2003 .03

검증 테스팅을 위한 새로운 설계방법 ( A New Design Method for Verification Testability )

이영호 ,  정정화

전자공학회논문지-A

1992 .04

논리계통의 회로측정방식 연구 ( Testability measurement for the digital systems )

김용득

대한전자공학회 학술대회

1980 .01

Testability of Supply Current Test in an AGC Circuit

Masaki Hashizume ,  Makoto Kawaji ,  i 외 3명

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

2003 .07

Random Pattern Testability of AND/XOR Circuits

Gueesang Lee

Journal of Electrical Engineering and information Science

1998 .02

Testability Enhancement in IDDQ Environment

황선태

CAD 및 VLSI 설계연구회지

1995 .01

고 Testability를 위한 Domino CMOS회로의 설계 ( On Designing Domino CMOS Circuits for High Testability )

이재민 ,  강성모

한국통신학회논문지

1994 .03

디지탈 시스템의 회로측정 평가방식에 관한 연구 ( A Study on a Testability Evaluation Method for the Digital System )

김용득

전자공학회지

1981 .10

Hybrid Design For Testability Combining Scan and Clock Line Control and Method For Test Generation

Sang Hyeon Baeg ,  William A. Roge ,  s

대한전자공학회 토론회

1995 .01

Hybrid Design For Testability Combining Scan and Clock Line Control and Method For Test Generation

Sanghyeon Baeg ,  William A. Roge ,  s

대한전자공학회 학술대회

1995 .07

An Interative PC Based Tool for Testability Measurement

Tay Beng Kang ,  H. L. Chin

JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1994 .01

High Frequency Divider Using Inverter and Transmission Gates

Jihoon Kim ,  Wooyeol Choi ,  Youngwoo Kwon

대한전자공학회 ISOCC

2005 .10

IDDQ Testability Analysis Using Random Test Vectors

Von Kyoung Kim ,  Tom Chen

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1997 .01

Large-Area CVD-grown Sub-2V ReS2 Transistors and Logic Gates

Ajjipo ,  n Dathbun ,  김영찬 외 5명

한국고분자학회 학술대회 연구논문 초록집

2017 .10

[초청논문] Recent Advances on All-Optical Logic Gates

김재헌 ,  변영태 ,  이석 외 2명

한국통신학회 기타 간행물

2009 .12