Hybrid Design For Testability Combining Scan and Clock Line Control and Method For Test Generation

Sang Hyeon Baeg ,  William A. Roge ,  s

대한전자공학회 토론회

1995 .01

Design for Testability

유영갑

한국통신학회 워크샵

1986 .01

Testability를 이용한 검사패턴 생성에 관한 연구 ( A Study on the Test Pattern Generation Using Testability )

김진문 ,  송원국 ,  이강현 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1990 .07

Design for Testability를 위한 검사방식

이강현 ,  김용득

전자공학회지

1992 .01

An On-Chip Test Clock Control Scheme for Circuit Aging Monitoring

Hyunbean Yi

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2013 .02

Scan Flipflops Grouping Algorithm for Low Power Design-For-Testability

Insoo Kim ,  Hyoung Bok Min

대한전자공학회 ISOCC

2007 .10

Dynamically Changeable Secure Scan Architecture against Scan-Based Side Channel Attack

Yuta Atobe ,  Youhua Shi ,  Masao Yanagisawa 외 1명

대한전자공학회 ISOCC

2012 .11

구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계 ( A Unification of Structural Analysis And Testabilities For a Partial Scan Design )

박종욱 ,  박경택 ,  박성주

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계

박종욱 ,  박경태 ,  박성주

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

Operation about Multiple Scan Chains based on System-on-Chip

Insoo Kim ,  Hyoung Bok Min

대한전자공학회 ISOCC

2008 .11

검증 테스팅을 위한 새로운 설계방법 ( A New Design Method for Verification Testability )

이영호 ,  정정화

전자공학회논문지-A

1992 .04

Testability of Supply Current Test in an AGC Circuit

Masaki Hashizume ,  Makoto Kawaji ,  i 외 3명

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

2003 .07

신호선의 상관관계를 고려한 개선된 테스트용이도 분석 알고리즘

김윤홍

한국산학기술학회 논문지

2003 .03

IEEE 1149.1 표준에 근거한 다중 클럭을 이용한 단일 캡쳐 스캔 설계에 적용되는 경계 주사 테스트 기법에 관한 연구

金吝洙 ,  閔炯福

전기학회논문지

2007 .05

Testability를 높이기 위한 Sea-of-Gates 구조에 관한 연구 ( A Study on the Sea-of-Gates Structure to Enhance Testability )

윤인수 ,  채수익

대한전자공학회 학술대회

1992 .01

Master-Slave 기법을 적용한 System Operation의 동작 검증

金吝洙 ,  閔炯福

전기학회논문지

2009 .01

시험성 분석 기법 ( ITEM ) 의 부분 스캔 성능 평가 ( Partial Scan Performance Evaluation of Iterative Method of Testability Measurement ( ITEM ) )

김형국 ,  이재훈 ,  민형복

전자공학회논문지-C

1998 .11

Line Scanning Performance 향상에 관한 연구

송우섭 ,  이승우 ,  이정률

한국통신학회 학술대회논문집

1994 .07

디지탈 IC 및 보드의 시험을 위한 스캔 설계 기술 ( Scan Design Techniques for Chip and Board Level Testability )

민형복

전자공학회지

1995 .12

Design of Clock Gears for Low-power Media Bus

Yong-Hwan Lee ,  Hoon-Ju Chung ,  Chang-Gu Rho

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

2008 .07