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이용수
Abstract
1 Introduction
2 Previous Work
3 Proposed Methodology
4 Experimental Results
5 Conclusions
6 References
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Design for Testability
한국통신학회 워크샵
1986 .01
Design for Testability를 위한 검사방식
전자공학회지
1992 .01
Testability를 이용한 검사패턴 생성에 관한 연구 ( A Study on the Test Pattern Generation Using Testability )
대한전자공학회 학술대회
1990 .07
노이즈 면역을 향상시킨 플립플롭
전자공학회논문지-SD
2011 .08
a-IGZO TFT를 이용한 D FlipFlop 설계
대한전자공학회 학술대회
2017 .06
Hybrid Design For Testability Combining Scan and Clock Line Control and Method For Test Generation
대한전자공학회 토론회
1995 .01
Hybrid Design For Testability Combining Scan and Clock Line Control and Method For Test Generation
대한전자공학회 학술대회
1995 .07
저전력 D-flipflop을 이용한 고성능 Dual-Modulus Prescaler ( High Performance Dual-Modulus Prescaler with Low Power D-flipflops )
한국통신학회논문지
2000 .10
E/D-GaAs MESFET의 문턱전압 변동에 대한 T-Flipflop의 수율 시뮬레이션
대한전자공학회 학술대회
1996 .11
E / D-GaAs MESFET의 문턱전압 변동에 대한 T-Flipflop의 수율 시뮬레이션 ( Yield Simulations of E / D-GaAs MESFET T-Flipflop for Threshold Voltage Variations )
대한전자공학회 학술대회
1996 .11
구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계 ( A Unification of Structural Analysis And Testabilities For a Partial Scan Design )
대한전자공학회 학술대회
1997 .11
구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계
대한전자공학회 학술대회
1997 .11
Dynamically Changeable Secure Scan Architecture against Scan-Based Side Channel Attack
대한전자공학회 ISOCC
2012 .11
검증 테스팅을 위한 새로운 설계방법 ( A New Design Method for Verification Testability )
전자공학회논문지-A
1992 .04
신호선의 상관관계를 고려한 개선된 테스트용이도 분석 알고리즘
한국산학기술학회 논문지
2003 .03
A Low Power Scan Design Architecture
대한전자공학회 ISOCC
2004 .10
Testability를 높이기 위한 Sea-of-Gates 구조에 관한 연구 ( A Study on the Sea-of-Gates Structure to Enhance Testability )
대한전자공학회 학술대회
1992 .01
TSPC ( True Single Phase Clock ) T-flipflop을 이용한 프로그램 가능한 주파수 분주기 ( Programmable Frequency Divider Using TSPC ( True Single Phase Clock ) T- Flipflop )
대한전자공학회 학술대회
1996 .11
TSPC(True Single Phase Clock) T-flipflop을 이용한 프로그램 가능한 주파수 분주기
대한전자공학회 학술대회
1996 .11
디지탈 IC 및 보드의 시험을 위한 스캔 설계 기술 ( Scan Design Techniques for Chip and Board Level Testability )
전자공학회지
1995 .12
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