디지탈 시스템의 회로측정 평가방식에 관한 연구 ( A Study on a Testability Evaluation Method for the Digital System )

김용득

전자공학회지

1981 .10

Design for Testability

유영갑

한국통신학회 워크샵

1986 .01

Design for Testability를 위한 검사방식

이강현 ,  김용득

전자공학회지

1992 .01

Testability를 이용한 검사패턴 생성에 관한 연구 ( A Study on the Test Pattern Generation Using Testability )

김진문 ,  송원국 ,  이강현 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1990 .07

신호선의 상관관계를 고려한 개선된 테스트용이도 분석 알고리즘

김윤홍

한국산학기술학회 논문지

2003 .03

저전력 소모와 테스트 용이성을 고려한 회로 설계

이종원 ,  손윤식 ,  정정화 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .06

저전력 소모와 테스트 용이성을 고려한 회로 설계 ( A Study on Low Power and Design-For-Testability Techniques of Digital IC )

이종원 ,  손윤식 ,  정정화 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .07

고 Testability를 위한 Domino CMOS회로의 설계 ( On Designing Domino CMOS Circuits for High Testability )

이재민 ,  강성모

한국통신학회논문지

1994 .03

순차회로를 위한 검사성 분석법의 확장 ( An Extension of Testability Analysis for Sequential Circuits )

김신택 ,  민형복

전자공학회논문지-A

1995 .04

An Interative PC Based Tool for Testability Measurement

Tay Beng Kang ,  H. L. Chin

JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1994 .01

Testability를 높이기 위한 Sea-of-Gates 구조에 관한 연구 ( A Study on the Sea-of-Gates Structure to Enhance Testability )

윤인수 ,  채수익

대한전자공학회 학술대회

1992 .01

검증 테스팅을 위한 새로운 설계방법 ( A New Design Method for Verification Testability )

이영호 ,  정정화

전자공학회논문지-A

1992 .04

Testability of Supply Current Test in an AGC Circuit

Masaki Hashizume ,  Makoto Kawaji ,  i 외 3명

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

2003 .07

Random Pattern Testability of AND/XOR Circuits

Gueesang Lee

Journal of Electrical Engineering and information Science

1998 .02

Testability Enhancement in IDDQ Environment

황선태

CAD 및 VLSI 설계연구회지

1995 .01

학습 정보를 이용한 테스트 용이도 척도의 계산

김지호 ,  배두현 ,  송오영 외 2명

전자공학회논문지-SD

2004 .05

개선된 테스트 용이화를 위한 점진적 개선 방식의 데이타 경로 합성 알고리즘

김태환 ,  정기석

정보과학회논문지 : 시스템 및 이론

2002 .06

오동작 측정이 쉬운 논리회로의 설계방식 연구 ( A Study on Design Method for the Testable Digital Systems )

김용득

전자공학회지

1981 .06

RTL 회로를 위한 테스트 용이도 기반 비주사 설계 기법

김성일 ,  양선웅 ,  김문준 외 3명

정보과학회논문지 : 시스템 및 이론

2003 .02

Hybrid Design For Testability Combining Scan and Clock Line Control and Method For Test Generation

Sanghyeon Baeg ,  William A. Roge ,  s

대한전자공학회 학술대회

1995 .07