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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2004.5
- 수록면
- 81 - 90 (10page)
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본 연구는 테스트 패턴 생성 알고리즘에서 결정 과정을 안내하는 데 이용되는 새로운 테스트 용이도 척도 계산법을 제안한다. 이 테스트 용이도 척도는 학습에 의해 얻어지는 회로의 구조적 정보를 이용한다. 제안된 테스트 용이도 척도는 오직 하나의 해결책이 존재할 경우 모순조건을 조기에 찾아내는 패턴을 유도하며, 반면에 다수의 해결책들이 존재할 경우 최소한의 모순이 발생토록 유도한다. 제안된 테스트 용이도 척도는 기존의 방법과 동일한 고장 검출율을 얻는 패턴을 얻는데 소요되는 CPU 시간을 상당히 감소시킨다.
목차
요약
Abstract
1. 서론
2. 기반 알고리즘
3. 학습정보를 이용한 테스트 용이도
4. 단일 후방 추적 기법의 이용
5. 실험
6. 결론
참고문헌
저자소개
참고문헌 (7)
참고문헌 신청
[학술지(정기간행물)] - Rubin A. Parekhji / Jan.2003 / Testing embedded cores and SOCs-DFT, ATPG and BIST solutions : 17 ~
[학술지(정기간행물)] - H. Date / Nov.2002 / A SoC test strategy based on a non-scan DFT method : 305 ~ 310
[학술지(정기간행물)] - J. Hirase / nov.2003 / Test pattern length required to reach the desired fault coverage : 508 ~
[학술지(정기간행물)] - Z. Jiang / nov.2003 / A test generation approach for systems-on-chip that use intel lectual property cores : 278 ~ 281
[학술지(정기간행물)] - M. H. Schulz / Jan.1988 / SOCRATES: A Highly Efficient Automatic Test Pattern Gene ration System 7 (1) : 126 ~ 137
[학술지(정기간행물)] - H. Date / Nov.2002 / A SoC test strategy based on a non-scan DFT method : 305 ~ 310
[학술지(정기간행물)] - J. Hirase / nov.2003 / Test pattern length required to reach the desired fault coverage : 508 ~
[학술지(정기간행물)] - Z. Jiang / nov.2003 / A test generation approach for systems-on-chip that use intel lectual property cores : 278 ~ 281
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