저전력 소모와 테스트 용이성을 고려한 회로 설계 ( A Study on Low Power and Design-For-Testability Techniques of Digital IC )

이종원 ,  손윤식 ,  정정화 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .07

Design for Testability

유영갑

한국통신학회 워크샵

1986 .01

신호선의 상관관계를 고려한 개선된 테스트용이도 분석 알고리즘

김윤홍

한국산학기술학회 논문지

2003 .03

논리계통의 회로측정방식 연구 ( Testability measurement for the digital systems )

김용득

대한전자공학회 학술대회

1980 .01

저 전력소모와 높은 테스트용이성을 위한 새로운 논리 변환 방법

손윤식 ,  정정화

전자공학회논문지-SD

2003 .09

디지탈 시스템의 회로측정 평가방식에 관한 연구 ( A Study on a Testability Evaluation Method for the Digital System )

김용득

전자공학회지

1981 .10

Design for Testability를 위한 검사방식

이강현 ,  김용득

전자공학회지

1992 .01

Testability를 이용한 검사패턴 생성에 관한 연구 ( A Study on the Test Pattern Generation Using Testability )

김진문 ,  송원국 ,  이강현 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1990 .07

RTL 회로를 위한 테스트 용이도 기반 비주사 설계 기법

김성일 ,  양선웅 ,  김문준 외 3명

정보과학회논문지 : 시스템 및 이론

2003 .02

다중셀 구조의 보호회로 IC의 저전력 설계기법

이종훈 ,  조충현 ,  김대정 외 2명

대한전자공학회 학술대회

2003 .07

학습 정보를 이용한 테스트 용이도 척도의 계산

김지호 ,  배두현 ,  송오영 외 2명

전자공학회논문지-SD

2004 .05

개선된 테스트 용이화를 위한 점진적 개선 방식의 데이타 경로 합성 알고리즘

김태환 ,  정기석

정보과학회논문지 : 시스템 및 이론

2002 .06

테스트 용이성을 고려한 VLSI 설계 방식

임인칠

전자공학회잡지

1984 .10

Testability of Pin Open in Small Outline Package ICs by Supply Current Test

Masao Takagi ,  Masaki Hashizume ,  Masahi 외 4명

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

2003 .07

구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계

박종욱 ,  박경태 ,  박성주

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계 ( A Unification of Structural Analysis And Testabilities For a Partial Scan Design )

박종욱 ,  박경택 ,  박성주

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

디지털 회로에서의 새로운 모델 기반 IP-Level 소모 전력 추정 기법

이창희 ,  신현철 ,  김경호

전자공학회논문지-SD

2006 .02

System IC 설계 기술 ( System IC Design Techniques )

신현종

대한전자공학회 토론회

1997 .01

디지탈 IC 및 보드의 시험을 위한 스캔 설계 기술 ( Scan Design Techniques for Chip and Board Level Testability )

민형복

전자공학회지

1995 .12

Digital IC Case Study

박주성

대한전자공학회 단기강좌

1983 .01