개인구독
소속 기관이 없으신 경우, 개인 정기구독을 하시면 저렴하게
논문을 무제한 열람 이용할 수 있어요.
지원사업
학술연구/단체지원/교육 등 연구자 활동을 지속하도록 DBpia가 지원하고 있어요.
커뮤니티
연구자들이 자신의 연구와 전문성을 널리 알리고, 새로운 협력의 기회를 만들 수 있는 네트워킹 공간이에요.
논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 저널정보
- Korean Institute of Information Scientists and Engineers 정보과학회논문지 : 시스템 및 이론 정보과학회논문지 : 시스템 및 이론 제29권 제5·6호
- 발행연도
- 2002.6
- 수록면
- 361 - 368 (8page)
이용수
초록· 키워드
오류제보하기
본 논문은 세 가지 중요한 설계 기준인 테스트 용이화, 설계 면적, 및 전체 수행 시간을 동시에 고려한 새로운 데이터 경로 합성 알고리즘을 제시한다. 우리는 테스트 용이화를 위한 선행 연구들에서 제시한 세 가지 기초적 척도들에 근거하여 새로운 테스트 용이화의 우수성에 대한 척도를 정의한다. 이 척도를 이용하여, 스케쥴링과 할당의 통합된 형태의, 단계식이며 점진적 개선을 통한, 합성 알고리즘을 제시한다. 벤치마크 설계와 다른 회로의 예를 통한 실험에서, 우리는 설계 면적과 수행 시간에 대해 매우 적은 추가 부담으로, 회로의 테스트 용이화가 향상됨을 보인다.
목차
요약
Abstract
1. 서론
2. 합성 문제
3. 단계식 개선 합성 알고리즘
4. 비용계산 공식
5. 스케쥴링 제약조건 추가
6. 실험 결과
7. 결론
참고문헌
저자소개
참고문헌 (0)
참고문헌 신청함께 읽어보면 좋을 논문
논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!
-
신호선의 상관관계를 고려한 개선된 테스트용이도 분석 알고리즘
한국산학기술학회 논문지
2003 .03
-
Design for Testability
한국통신학회 워크샵
1986 .01
-
VHDL에 의한 테스트 용이화 설계방식의 순서회로 모델링 ( Modeling of Sequential Circuits for Design-for-Testability using VHDL )
대한전자공학회 학술대회
1996 .11
-
RTL 회로를 위한 테스트 용이도 기반 비주사 설계 기법
정보과학회논문지 : 시스템 및 이론
2003 .02
-
학습 정보를 이용한 테스트 용이도 척도의 계산
전자공학회논문지-SD
2004 .05
-
Design for Testability를 위한 검사방식
전자공학회지
1992 .01
-
Testability를 이용한 검사패턴 생성에 관한 연구 ( A Study on the Test Pattern Generation Using Testability )
대한전자공학회 학술대회
1990 .07
-
검사용이화를 위한 VHDL의 동작기술 합성에 관한 연구 ( A Study on the Behavioral technology Synthesis of VHDL for Testability )
대한전자공학회 학술대회
1997 .01
-
상용화된 VLSI 칩들의 테스트 용이화 설계기술
전자공학회지
1999 .01
-
저전력 소모와 테스트 용이성을 고려한 회로 설계 ( A Study on Low Power and Design-For-Testability Techniques of Digital IC )
대한전자공학회 학술대회
1998 .07
-
저전력 소모와 테스트 용이성을 고려한 회로 설계
대한전자공학회 학술대회
1998 .06
-
구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계 ( A Unification of Structural Analysis And Testabilities For a Partial Scan Design )
대한전자공학회 학술대회
1997 .11
-
구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계
대한전자공학회 학술대회
1997 .11
-
고성능 VLSI 의 테스트 용이화를 위한 설계 방법
전자공학회지
1998 .11
-
검증 테스팅을 위한 새로운 설계방법 ( A New Design Method for Verification Testability )
전자공학회논문지-A
1992 .04
-
논리계통의 회로측정방식 연구 ( Testability measurement for the digital systems )
대한전자공학회 학술대회
1980 .01
-
Testability of Supply Current Test in an AGC Circuit
ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications
2003 .07
-
Random Pattern Testability of AND/XOR Circuits
Journal of Electrical Engineering and information Science
1998 .02
-
고 Testability를 위한 Domino CMOS회로의 설계 ( On Designing Domino CMOS Circuits for High Testability )
한국통신학회논문지
1994 .03
-
테스트 용이도를 이용한 조합 회로의 효율적인 로보스트 경로 지연 고장 테스트 생성 ( Efficient Robust Path Delay Fault Test Generation for Combinational Circuits Using the Testability Measure )
전자공학회논문지-A
1996 .02
이 논문의 저자 정보
최근 본 자료
댓글(0)
0
UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2009-569-017861899