순차 회로의 지연 고장 검출을 위한 새로운 스캔 설계

許璄會 ,  康容碩 ,  姜成昊

전기학회논문지 A

1999 .09

구조분석과 테스트 가능도의 통합에 의한 부분스캔 설계

박종욱 ,  신상훈 ,  박성주

정보과학회논문지(A)

1999 .09

부분 스캔을 고려한 최적화된 상태 할당 기술 개발

조상욱 ,  양세양 ,  박성주

대한전자공학회 학술대회

1999 .11

효율적인 Partial Scan 설계 알고리듬

金倫弘 ,  新載興

전기학회논문지 P

2004 .12

적기계탐색법에서의 부분스캔설계 ( Partial Scan Design in the Product Machine Traversal Method )

최호용

대한전자공학회 학술대회

1996 .01

구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계 ( A Unification of Structural Analysis And Testabilities For a Partial Scan Design )

박종욱 ,  박경택 ,  박성주

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계

박종욱 ,  박경태 ,  박성주

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

회로 분할에 의한 부분 스캔 ( Partial Scan Based on Circuit Partitioning )

최호용 ,  정용군 ,  강민섭

대한전자공학회 학술대회

1997 .07

회로 분할에 의한 부분 스캔

최호용 ,  정용군 ,  강민섭

대한전자공학회 학술대회

1997 .06

구조분석과 테스트 가능도에 의한 부분스캔 설계

박종욱 ,  박경택 ,  박성주

한국정보과학회 학술발표논문집

1997 .10

원형스캔 레이더 식별을 위한 스캔변수 추정기법

류영진 ,  하현주 ,  김환우

전자공학회논문지-SP

2006 .11

순차제어기의 자동설계에 관한 연구

朴忠圭

전기학회논문지

1983 .11

유사조합 회로로의 변환에 기초한 부분 스캔 기법을 이용한 디지탈 순차 회로의 테스트 기법 연구

閔炯福

전기학회논문지

1994 .03

대규모 집적회로 설계를 위한 무고정 부분 스캔 테스트 방법 ( No-Holding Partial Scan Test Method for Large VLSI Designs )

노현철 ,  이동호

전자공학회논문지-C

1998 .03

Personal Computer Based Design for the Sequential Machines

조동섭 ,  김민환 ,  김준현

대한전기학회 학술대회 논문집

1985 .07

저전력을 고려한 스캔 체인 구조 변경

金吝洙 ,  閔炯福

전기학회논문지 D

2005 .07

테스트 시간과 테스트 전력 감소를 위한 선택적 세그먼트 바이패스 스캔 구조

양명훈 ,  김용준 ,  박재석 외 1명

전자공학회논문지-SD

2009 .05

이동식 로버 기반 스캔 자동화 계획에 대한 연구

강태욱

한국산학기술학회 논문지

2019 .08

Partial Scan Design Based on Levelized Combinational Structure

Sung-Ju Pa ,  k

Journal of Electrical Engineering and Information Science

1997 .06

전류 밀도 측정을 위한 스캔 장치 설계

임선종

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2015 .12