구조분석과 테스트 가능도의 통합에 의한 부분스캔 설계

박종욱 ,  신상훈 ,  박성주

정보과학회논문지(A)

1999 .09

구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계 ( A Unification of Structural Analysis And Testabilities For a Partial Scan Design )

박종욱 ,  박경택 ,  박성주

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계

박종욱 ,  박경태 ,  박성주

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

시험성 분석 기법 ( ITEM ) 의 부분 스캔 성능 평가 ( Partial Scan Performance Evaluation of Iterative Method of Testability Measurement ( ITEM ) )

김형국 ,  이재훈 ,  민형복

전자공학회논문지-C

1998 .11

Design for Testability

유영갑

한국통신학회 워크샵

1986 .01

부분 변환에 의한 조합회로의 타이밍 최적화 기법 ( A Combinational Timing Optimization Technique By Local Transformation )

양세양 ,  송해진 ,  김종안 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1993 .07

부분 변환에 의한 조합회로의 타이밍 최적화 기법

양세양 ,  김종안 ,  김호중 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1993 .07

새로운 순차 타이밍 최적화 기법 ( A New Sequential Timing Optimization Technique )

양세양 ,  송해진 ,  김종안 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1993 .07

새로운 순차 타이밍 최적화 기법

양세양 ,  송해진 ,  김종안 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1993 .07

지연고장 검출을 위한 LOS/LOC 스캔 테스트 기술

허용민 ,  최영철

한국인터넷방송통신학회 논문지

2014 .01

Testability를 이용한 검사패턴 생성에 관한 연구 ( A Study on the Test Pattern Generation Using Testability )

김진문 ,  송원국 ,  이강현 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1990 .07

병렬 사건전파 방식에 의한 타이밍 분석

韓昌昊

전기학회논문지 A

1999 .10

디지탈 IC 및 보드의 시험을 위한 스캔 설계 기술 ( Scan Design Techniques for Chip and Board Level Testability )

민형복

전자공학회지

1995 .12

상위단계 설계 검증을 위한 논리/타이밍 추출 시스템의 설계 ( Design of A Logic/Timing Extraction System for Higher-level Design Verification )

이용재 ,  문인호 ,  황선영

전자공학회논문지-A

1993 .02

Design for Testability를 위한 검사방식

이강현 ,  김용득

전자공학회지

1992 .01

조합논리회로의 타이밍 최적화를 위한 테크놀로지 매핑 알고리듬에 관한 연구 ( A Study on Technology Mapping Algorithm for Timing Optimization of Combinational Logic Circuits )

주진태 ,  이재흥 ,  정정화

대한전자공학회 학술대회

1991 .11

논리계통의 회로측정방식 연구 ( Testability measurement for the digital systems )

김용득

대한전자공학회 학술대회

1980 .01

부분 스캔을 고려한 최적화된 상태할당 기술 개발

曺尙煜 ,  梁世陽 ,  朴成柱

전자공학회논문지-SD

2000 .11

논리값 제약을 갖는 스캔 설계 회로에서의 자동 시험 패턴 생성 ( A Method to Generate Test Patterns for Scan Designed Logic Circuits under Logic Value Constraints )

박은세

전자공학회논문지-A

1994 .02

Signal Integrity 연결선 테스트용 다중천이 패턴 생성방안

김용준 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2008 .10