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자료유형
학술저널
저자정보
Hyeok-Woo Son (Kyungpook National University) Byung-Mun Kim (Gyeongbuk Provincial College) Jae-Pyo Hong (Kyungil University) Young-Ki Cho (Kyungpook National University)
저널정보
대한전기학회 Journal of Electrical Engineering & Technology Journal of Electrical Engineering & Technology Vol.10 No.5
발행연도
2015.9
수록면
2,120 - 2,125 (6page)

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In this paper, a rectangular waveguide probe with a ridge-loaded straight slot (RLSS) is presented for a near-field scanning microwave microscope (NSMM). The RLSS is located laterally at the end wall of the cavity and is loaded on double ridges in a narrow straight slot to improve the spatial resolution compared with a straight slot. The probe consists of a rectangular cavity with an RLSS and a feed section of a WR-90 rectangular waveguide. When the proposed NSMM is located at distance of 0.1mm in front of a substrate without patches or strips, the simulated full width at half maximum (FWHM) of the probe improve by approximately 31.5 % compared with that of a straight slot without ridges. One dimensional scanning of the E-plane on a sample under test was conducted, and the reflection coefficient of the near-field scanning probe is presented.
#Rectangular waveguide probe #Ridge-loaded straight slot #Near-field scanning #Microwave microscopy

목차

Abstract
1. Introduction
2. Electric Field Characteristics for an RLSS
3. Design of a Rectangular Waveguide Probe
4. Experimental results
5. Conclusion
6. Acknowledgement
References

참고문헌 (14)

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[학술지(정기간행물)] - E. A. Ash / 1972 / Super-resolution aperture scanning microwave microscope / Nature 237 : 510 ~ 512 google schola [학술지(정기간행물)] - N. N. Qaddoumi / 2006 / Near-field microwave imaging utilizing tapered rectangular waveguides / IEEE Trans. Instrum Meas 55 (5) : 1752 ~ 1756 google schola [학술지(정기간행물)] - HM. T. Azar / 1999 / Evanescent microwaves : a novel super-resolution noncontact nondestructive imaging technique for biological applications / IEEE Trans. Instrum Meas 48 (6) : 1111 ~ 1116 google schola [학술지(정기간행물)] - R. S. Aga / 2005 / Application of near-field scanning microwave probe to current density mapping in conducting films at room temperature / Appl. Phys. Lett 86 : 234101 ~ google schola [학술지(정기간행물)] - D. E. Steinhauer / 1997 / Surface resistance imaging with a scanning near-field microwave microscope / Appl. Phys. lett 71 (12) : 1736 ~ 1738 google schola

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