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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
안태준 (한경대학교) 이시현 (동서울대학교) 유윤섭 (한경대학교)
저널정보
한국정보통신학회 한국정보통신학회논문지 한국정보통신학회논문지 제19권 제12호
발행연도
2015.12
수록면
2,899 - 2,904 (6page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

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3차원 순차적 집적회로에서 열에 의한 손상으로 생성되는 계면 포획 전하가 트랜지스터의 드레인 전류-게이트 전압 특성에 미치는 영향을 소개한다. 2차원 소자 시뮬레이터를 이용해서 산화막 층에 계면 포획 전자 분포를 추출한 결과를 설명한다. 이 계면 포획 전자분포를 고려한 3차원 순차적 집적회로에서 Inter Layer Dielectric (ILD)의 길이에 따른 하층 트랜지스터의 게이트 전압의 변화에 따라서 상층 트랜지스터의 문턱전압 V<SUB>th</SUB>의 변화량에 대해서 소개한다. 상대적으로 더 늦은 공정인 상층 HfO₂층 보다 하층 HfO₂층과 양쪽 SiO₂층이 열에 의한 영향을 더 많이 받았다. 계면 포획 전하 밀도 분포를 사용하지 않았을 때 보다 사용 했을 때 Vth 변화량이 더 적게 변하는 것을 확인 했다. 3차원 순차적 인버터에서 ILD의 길이가 50nm이하로 짧아질수록 점점 더 V<SUB>th</SUB> 변화량이 급격히 증가하였다.

목차

요약
ABSTRACT
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 3D sequential 트랜지스터의 구조
Ⅲ. 시뮬레이션 결과 및 전기적 특성
Ⅳ. 결과 및 논의
Ⅴ. 결론
REFERENCES

참고문헌 (9)

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