Analysis of Bias Dependent Threshold Voltage of FinFET using Analytical Potential Model

Jihyeong Han ,  Hakkee Jung ,  Jongin Lee 외 2명

INTERNATIONAL CONFERENCE ON FUTURE INFORMATION & COMMUNICATION ENGINEERING

2009 .06

n-FinFET과 p-FinFET의 스페이서 길이에 따른 충돌이온화 특성 비교

김현수 ,  서영수 ,  김종수 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2015 .06

3차원 포아송방정식을 이용한 FinFET의 문턱전압특성분석

정학기

한국정보통신학회논문지

2009 .11

Low-Power Fully Digital Voltage Sensor using 32-nm FinFETs

H. V. Nguyen ,  Youngmin Kim

IEIE Transactions on Smart Processing & Computing

2016 .02

2차원 양자 역학적 모델링 및 시뮬레이션

김기동 ,  권오섭 ,  서지현 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2003 .07

Self Heating Effects in Sub-nm Scale FinFETs

Khushabu Ag ,  awal ,  Vilas Patil 외 7명

전기전자재료학회논문지

2020 .01

3차원 포아송방정식을 이용한 FinFET의 포텐셜분포 모델

정학기

한국정보통신학회논문지

2009 .04

Performance Optimization Study of FinFETs Considering Parasitic Capacitance and Resistance

TaeYoon An ,  KyeongKeun Choe ,  Kee-Won Kwon 외 1명

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2014 .10

Strained Si on Insulator as Potential Material for Forced Stacked Multi-threshold FinFET Based Inverter Considering Ultra Low-Power Applications

Sangeeta Singh ,  Shashank Dubey ,  Sau 외 3명

Transactions on Electrical and Electronic Materials

2019 .01

Portfolio of FinFET Memories: Innovative Techniques for an Emerging Technology

She ,  if A. Tawfik ,  Volkan Ku 외 1명

대한전자공학회 ISOCC

2008 .11

나노구조 이중게이트 FinFET의 크기변화에 따른 문턱전압이동 및 DIBL 분석

정학기

한국정보통신학회논문지

2007 .04

Threshold Voltage Modeling of Double-Gate MOSFETs by Considering Barrier Lowering

Byung-Kil Choi ,  Ki-Heung Pa ,  k 외 3명

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2007 .06

실제적 구조를 가진 벌크 및 SOI FinFET에서 발생하는 동적 self-heating 효과

유희상 ,  정하연 ,  양지운

전자공학회논문지

2015 .10

나노구조 FinFET에서 게이트산화막의 특성에 따른 터널링의 변화 분석

정학기

한국정보통신학회논문지

2008 .09

20nm이하 FinFET의 크기변화에 따른 서브문턱스윙분석

정학기

한국정보통신학회논문지

2006 .10

I/O FinFET에서 로컬도핑에 대한 고온캐리어 열화 효과 분석

서영수 ,  김현수 ,  김종수 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2015 .06

Si Bulk-FinFET의 게이트 길이 감소에 따른 비이상적인 커패시턴스-전압 특성 분석

김현수 ,  서영수 ,  김종수 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2015 .11

Fin 두께에 따른 Bulk FinFET의 IV 특성 분석

김현석 ,  손도균 ,  강덕승 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2015 .11