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Fin 두께에 따른 Bulk FinFET의 IV 특성 분석
대한전자공학회 학술대회
2015 .11
Spacer 길이에 변화에 따른 n-bulk FinFET 전기적 특성 분석
대한전기학회 학술대회 논문집
2020 .07
Self Heating Effects in Sub-nm Scale FinFETs
전기전자재료학회논문지
2020 .01
n-FinFET과 p-FinFET의 스페이서 길이에 따른 충돌이온화 특성 비교
대한전자공학회 학술대회
2015 .06
7nm bulk FinFET에서 Via 높이에 따른 Self Heating 효과 분석
대한전자공학회 학술대회
2015 .06
진공 게이트 스페이서를 지니는 Bulk FinFET의 단채널효과 억제를 위한 소자구조 최적화 연구
전기전자재료학회논문지
2022 .11
실제적 구조를 가진 벌크 및 SOI FinFET에서 발생하는 동적 self-heating 효과
전자공학회논문지
2015 .10
Comparison of GIDL mechanism between MOSFET and FinFET
ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications
2015 .06
Source/Drain 상단 Contact을 갖는 Bulk FinFET의 Fin 높이가 On-Current 특성에 미치는 영향
대한전자공학회 학술대회
2020 .11
Analysis of Hot Carrier Injection according to Doping Concentration in Channel/Substrate and Spacer Length in Bulk-FinFET
ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications
2015 .06
3D TCAD Analysis of Hot-Carrier Degradation Mechanisms in 10 nm Node Input/Output Bulk FinFETs
JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE
2016 .04
FinFET Technology에 적합한 다양한 해상도를 갖는 시간-디지털 변환기 설계
대한전자공학회 학술대회
2022 .06
Effects of Trapezoidal Fin Shape on Performance of Negative-capacitance FinFETs
JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE
2022 .10
Low-Power Fully Digital Voltage Sensor using 32-nm FinFETs
IEIE Transactions on Smart Processing & Computing
2016 .02
Strained Si on Insulator as Potential Material for Forced Stacked Multi-threshold FinFET Based Inverter Considering Ultra Low-Power Applications
Transactions on Electrical and Electronic Materials
2019 .01
Si₁-xGex p-FinFET에서 주된 누설 전류의 메커니즘 분석
대한전자공학회 학술대회
2015 .06
표동-확산의 양자역학적 효과를 고려한 10 nm 급 다결정 실리콘 채널 무접합 전계효과 트랜지스터의 설계
대한전자공학회 학술대회
2015 .11
Negative Differential Capacitance 효과를 활용한 FinFET 및 SOI 소자의 성능 향상 실험 연구
대한전자공학회 학술대회
2017 .11
고유전율 필드 플레이트를 적용한 고전압용 FinFET의 항복 메커니즘 분석 및 최적화
대한전자공학회 학술대회
2021 .06
Impacts of Trapezoidal Fin of 20-nm Double-Gate FinFET on the Electrical Characteristics of Circuits
JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE
2015 .08
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