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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 저널정보
- 한국자기공명학회 Journal of the Korean Magnetic Resonance Society Journal of the Korean Magnetic Resonance Society 제12권 제1호
- 발행연도
- 2008.1
- 수록면
- 26 - 32 (7page)
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We report on the ferromagnetic characteristics of Zn1-xMnxO films (x = 0.3) prepared by sol-gel method on the silicon and (0001) α-Al2O3 substrates at the annealing temperature of 700℃. Magnetic measurements show that Curie temperature (TC) and the coercive field (HC) for the film on the silicon are about 32 K and about 275 Oe, while those for that on the sapphire are about 32 K and 425 Oe, respectively. Energy dispersive spectroscopy and transmission electron microscopy measurements suggest that ferromagnetic precipitates originated by manganese oxide compound formed at the interfaces of the both substrates may be responsible for the observed ferromagnetic behavior of the films. Electron paramagnetic resonance study of the powders up to the concentration of x=0.15 supports the result.
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