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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
오창권 (성균관대학교 공과대학 신소재공학과) 박상덕 (성균관대학교 공과대학 신소재공학과) 염근영 (테라급 나노소자 개발 사업단)
저널정보
한국재료학회 한국재료학회지 한국재료학회지 제16권 제4호
발행연도
2006.1
수록면
213 - 217 (5page)

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In this study, atomic layer etching of Si has been carried out using $Cl_2$ adsorption followed by the irradiation Ar neutral beam of low energy. In this experiment, the etch rate of Si was dependent on the $Cl_2$ pressure(the surface coverage of chlorine) and the irradiation time of Ar neutral beam(the flux density of Ar neural beam). And the etch rate of Si(100) and Si(111) were saturated exactly at one monolayer per cycle with $1.36{\AA}/cycle\;and\;1.57{\AA}/cycle$, respectively.

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