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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2022.9
- 수록면
- 15 - 22 (8page)
- DOI
- 10.5573/ieie.2022.59.9.15
이용수
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평판 디스플레이에서 주로 이용하는 게이트 드라이버 회로는 캐리 방식의 시프트 레지스터 구조를 적용한 게이트 드라이버 회로가 사용된다. 시프트 레지스터 구조의 게이트 드라이버 회로는 게이트 출력신호를 순차적으로 제어하는 구동 방식을 이용하므로 플렉서블 디스플레이와 같이 국부 영역에 물리적 스트레스가 지속되는 디스플레이에서는 시프트 레지스터 회로 구조 특성상 게이트 드라이버의 일부 유닛이 동작하지 않는 문제가 발생할 수 있어 디스플레이 구동시 오동작의 원인이 되고 있다. 본 논문에서는 이 같은 문제를 개선하기 위하여 캐리 프리 방식으로 게이트 드라이버 유닛을 각각 제어하여 게이트 출력 신호를 생성하는 디코더 구조의 게이트 드라이버를 제안한다. 제안하는 방식의 게이트 드라이버 회로를 적용할 경우 플렉서블 디스플레이에서의 게이트 드라이버 구동 오류를 개선하여 디스플레이 품위를 개선할 수 있다. 제안한 게이트 드라이버 회로의 구동 특성을 검증하기 위하여 회로 시뮬레이터를 통한 시뮬레이션을 진행하였고, 실물 검증을 위하여 회로 레이아웃을 진행하였으며, 저온폴리 실리콘 기판을 이용한 박막 트랜지스터 제작 공정을 거쳐 실물 제작함으로써 제안하는 회로 구조의 구동 특성을 검증하였다. 본 논문에서 제안하는 디코더 구조의 게이트 드라이버를 디스플레이에 적용할 경우에는 평판 디스플레이뿐만 아니라 플렉서블 디스플레이에도 이용이 가능하여 고품위의 디스플레이를 개발할 수 있을 것이다.
목차
요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
Ⅲ. 실험
Ⅳ. 결론
REFERENCES
참고문헌 (7)
참고문헌 신청
J. R. Ayres et al., "Analysis of drain field and hot carrier stability of poly-Si thin film transistors," Jpn. J. Appl. Phys. Vol. 37 pp. 1801-1808, 1998.
Y. M. Ha, "P-type Technology for Large Size Low Temperature Poly-Si TFT-LCDs," SID 2000, pp. 1116-1119, 2000.
Y. Uraoka et al., "Reliability of Low Temperature Poly-Silicon TFTs Under Inverter Operation," IEEE Trans. on Electron Devices, Vol. 48, No. 10, p. 2370, 2001.
JiSun Kim, KeeChan Park, Hwan-Sool Oh, "Triple Pull-Down Gate Driver Using Oxide TFTs," Journal of The Institute of Electronics and Information Engineers, 2012, vol. 49, no. 1, pp. 1-7.
Wei-Jing Wu, Li-Rong Zhang al., “A High-Reliability Gate Driver Integrated in Flexible AMOLED Display by IZO TFTs” IEEE Trans. on Electron Devices, Vol. 64, Issue: 5, pp. 1991-1996, Jan. 2017.
Y. M. Ha, "P-type Technology for Large Size Low Temperature Poly-Si TFT-LCDs," SID 2000, pp. 1116-1119, 2000.
Y. Uraoka et al., "Reliability of Low Temperature Poly-Silicon TFTs Under Inverter Operation," IEEE Trans. on Electron Devices, Vol. 48, No. 10, p. 2370, 2001.
JiSun Kim, KeeChan Park, Hwan-Sool Oh, "Triple Pull-Down Gate Driver Using Oxide TFTs," Journal of The Institute of Electronics and Information Engineers, 2012, vol. 49, no. 1, pp. 1-7.
Wei-Jing Wu, Li-Rong Zhang al., “A High-Reliability Gate Driver Integrated in Flexible AMOLED Display by IZO TFTs” IEEE Trans. on Electron Devices, Vol. 64, Issue: 5, pp. 1991-1996, Jan. 2017.
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