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논문 기본 정보

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학술대회자료
저자정보
이준섭 (한양대학교) 정혜란 (한양대학교) M. A. Ansari (한양대학교) 박성주 (한양대학교)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 대한전자공학회 2009년 SoC학술대회
발행연도
2009.5
수록면
146 - 149 (4page)

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본 논문에서는 ARM사에서 Network-on-Chip(NoC)로의 흐름에 따라 제안한 AMBA AXI 기반 SoC를 효율적으로 테스트 할 수 있는 테스트 제어기를 제안한다. 제안하는 방법은 AXI를 Test Access Mechanism(TAM)으로 재활용한다. 기존의 테스트 제어기를 효율적으로 변경하여 기존의 테스트 장비와 테스트 방법을 수정하지 않고 적용이 가능하다.

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. AMBA 2.0 기반 SoC 테스트 기술
Ⅲ. 제안하는 테스트 기술
Ⅳ. 실험 결과
Ⅴ. 결론
감사의 글
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