다이나믹 스트레스에서 LDD PMOSFT의 노쇠화 메커니즘 ( Device Degradation Mechanism of LDD PMOSFET Under Dynamic Stress )

김형기 ,  장성준 ,  박현진 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1995 .07

BF2 이온 주입한 표면 채널 LDD PMOSFET의 Hot-Carrier 효과 ( Hot-Carrier Effects of BF3 Ion-Implanted Surface-Channel LDD PMOSFET )

양광선 ,  박훈수 ,  김봉렬

전자공학회논문지-A

1991 .12

Hot Electron에 의한 LDD NMOS의 노쇠화 메카니즘

김덕기 ,  박현진 ,  김용택 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

양 방향 Hot Carrier 스트레스에 의한 PMOSFET 노쇠화 ( PMOSFET Degradation due to Bidirectional Hot Carrier Stress )

김용탁 ,  김덕기 ,  유종근 외 3명

전자공학회논문지-A

1995 .06

δ 도핑된 Si_0.8Ge_0.2 0.13㎛ pMOSFET 소자 특성 조사

오순영 ,  남령진 ,  조남인

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

SC-PMOSFET 의 수평 전계 모델과 노쇠화 메커니즘 ( Lateral Electric Field Model and Degradation Mechanism of Surface-Channel PMOSFET`s )

양광선 ,  박종태 ,  김봉렬

전자공학회논문지-A

1994 .01

0.1㎛ 레벨 PMOSFET의 소자 열화에 관한 연구 ( A Study on the Device Degradation with 0.1㎛ level PMOSFET )

홍성희 ,  이용수

한국통신학회논문지

1998 .11

AC 스트레스에서 Hot Carrier로 인한 PMOSFET의 노쇠화 현상 ( Hot Carrier Induced Device Degradation of PMOSFET Under AC Stress )

홍성택 ,  유종근 ,  박종태

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

AC 스트레스에서 Hot Carrier로 인한 PMOSFET의 노쇠화 현상

홍성택 ,  유종근 ,  박종태

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

LDD 소자 최적화의 실험적 고찰 ( An Experimental Investigation of LDD Device Optimization )

강대관 ,  김달수 ,  김현철 외 1명

전자공학회논문지

1990 .03

핫 캐리어 신뢰성 개선을 위한 새로운 LDD 구조에 대한 연구

장의구 ,  서용진 ,  김상용 외 1명

전기전자재료학회논문지

2002 .01

n-불순물 농도에 따른 N-채널 LDD 트랜지스터의 노쇠현상 ( n-Doping Density Dependent Hot-Carrier Degradation in N-Channel LDD MOSFET's )

박재관 ,  김경태 ,  신윤승

대한전자공학회 학술대회

1989 .01

Hot Electron에 의한 LDD NMOS의 노쇠화 메커니즘 ( Hot Electron Induced the Degradation Mechanism of Ldd NMOSFET )

김덕기 ,  박현진 ,  김용택 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

AN EXPERIMENTAL INVESTIGATION OF ENHANCED LDD DEVICES

Daeg Wan Kang ,  Gyu Hwan Yun ,  Gi Hong Kim 외 1명

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1989 .01

노쇠화된 PMOSFET의 문턱전압과 유효 채널길이를 위한 반 경험적 모델 ( Semi Empirical Model for the Threshold Voltage and the Effective Channel Length of Degraded PMOSFET )

홍성택 ,  박종태

대한전자공학회 학술대회

1993 .11

노쇠화된 PMOSFET의 문턱전압과 유효 채널길이를 위한 반 경험적 모델

홍성택 ,  박종태

대한전자공학회 학술대회

1993 .11

게이트와 n-드레인 OVERLAP이 N-CHANNEL LDD 트랜지스터의 노쇠현상에 미치는 영향 ( THE EFFECT OF GATE TO n-DRAIN OVERLAP ON THE DEGRADATION OF N-CHANNEL LDD TRANSISTORS )

박재관 ,  신윤승

대한전자공학회 학술대회

1988 .01

LDD MOSFET의 최적화에 관한 연구 ( Study on the Optimization of LDD MOSFET )

김달수 ,  박영준

전자공학회논문지

1987 .05

Hot electron 에 의하여 노쇠화된 PMOSFET 의 문턱전압과 유효 채널길이 모델링 ( The Threshold Voltage and the Effective Channel Length Modeling of Degraded PMOSFET due to Hot Electron )

홍성택 ,  박종태

전자공학회논문지-A

1994 .08

LDD 구조를 가진 다결정 실리콘 박막 트랜지스터에서의 열화 특성의 분석

정은식 ,  배지철 ,  정연식 외 1명

한국통신학회 학술대회논문집

2002 .11