다이나믹 스트레스에서 LDD PMOSFET의 노쇠화 메카니즘

김형기 ,  장성준 ,  박현진 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1995 .06

Hot Electron에 의한 LDD NMOS의 노쇠화 메커니즘 ( Hot Electron Induced the Degradation Mechanism of Ldd NMOSFET )

김덕기 ,  박현진 ,  김용택 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

LDD 소자 최적화의 실험적 고찰 ( An Experimental Investigation of LDD Device Optimization )

강대관 ,  김달수 ,  김현철 외 1명

전자공학회논문지

1990 .03

핫 캐리어 신뢰성 개선을 위한 새로운 LDD 구조에 대한 연구

장의구 ,  서용진 ,  김상용 외 1명

전기전자재료학회논문지

2002 .01

n-불순물 농도에 따른 N-채널 LDD 트랜지스터의 노쇠현상 ( n-Doping Density Dependent Hot-Carrier Degradation in N-Channel LDD MOSFET's )

박재관 ,  김경태 ,  신윤승

대한전자공학회 학술대회

1989 .01

AN EXPERIMENTAL INVESTIGATION OF ENHANCED LDD DEVICES

Daeg Wan Kang ,  Gyu Hwan Yun ,  Gi Hong Kim 외 1명

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1989 .01

Hot Electron에 의한 LDD NMOS의 노쇠화 메카니즘

김덕기 ,  박현진 ,  김용택 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

게이트와 n-드레인 OVERLAP이 N-CHANNEL LDD 트랜지스터의 노쇠현상에 미치는 영향 ( THE EFFECT OF GATE TO n-DRAIN OVERLAP ON THE DEGRADATION OF N-CHANNEL LDD TRANSISTORS )

박재관 ,  신윤승

대한전자공학회 학술대회

1988 .01

LDD MOSFET의 최적화에 관한 연구 ( Study on the Optimization of LDD MOSFET )

김달수 ,  박영준

전자공학회논문지

1987 .05

BF2 이온 주입한 표면 채널 LDD PMOSFET의 Hot-Carrier 효과 ( Hot-Carrier Effects of BF3 Ion-Implanted Surface-Channel LDD PMOSFET )

양광선 ,  박훈수 ,  김봉렬

전자공학회논문지-A

1991 .12

LDD 구조를 가진 다결정 실리콘 박막 트랜지스터에서의 열화 특성의 분석

정은식 ,  배지철 ,  정연식 외 1명

한국통신학회 학술대회논문집

2002 .11

LDD MOSFET의 누설전류에 관한 연구 ( A Study on the Leakage Current of LDD MOSFET )

이상목 ,  윤현민 ,  노영준

한국통신학회 전문대학 논문지

1995 .01

새로운 LDD 구조의 다결정 실리콘 박막 트랜지스터

황성수 ,  김동진 ,  김용상 외 3명

대한전기학회 학술대회 논문집

1997 .07

LDD MOSFET 채널 전계의 특성 해석

韓民九 ,  朴珉亨

전기학회논문지

1989 .06

LDD 방식에 의한 Short Channel MOSFET에 관한 연구 ( A Study on Short Channel MOSFET by the LDD Technology )

권상직 ,  이진호 ,  강영일 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1984 .01

LDD MOSFET의 기생저항에 대한 간단한 모형 ( A Simple Model for Parasitic Resistances of LDD MOSFETS )

이정일 ,  윤경식 ,  이명복 외 1명

전자공학회논문지

1990 .11

LDD 구조를 가지는 n-채널 다결정 실리콘 박막 트랜지스터의 전기적 특성 분석 ( Analysis of the Electrical Characteristics on n-channel LDD structured poly-Si TFT's )

김동진 ,  강창수

전자공학회논문지-IE

2000 .06

LDD 구조를 이용한 다결정 실리콘 박막 트랜지스터의 신뢰성 향상

정은식 ,  장원수 ,  배지철 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2002 .06

DC 스트레스에 의해 노쇠화된 LDD MOSFET에서 문턱전압과 Subthreshold 전류곡선의 변화 ( The Shift of Threshold Voltage and Subthreshold Current Curve in LDD MOSFET Degraded Under Different DC Stress-Biases )

이명복 ,  이정일 ,  강광남

전자공학회논문지

1989 .05

LDD N-MOSFET에서 핫-캐리어 열화의 만능곡선에 관한 연구

申泂淳

전기학회논문지

1996 .08