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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
최효정 (한국원자력연구원) 김한수 (한국원자력연구원) 하장호 (한국원자력연구원) 김영수 (한국원자력연구원)
저널정보
한국방사선산업학회 방사선산업학회지 방사선산업학회지 제15권 제1호
발행연도
2021.1
수록면
19 - 22 (4page)

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A new XRF automation system is developed to analyze the components of compoundsemiconductors such as CdTe and CdZnTe, which are currently manufactured. The systemconsists of an X-ray generator, a Si-PIN based X-ray detector module, two stepping motors thatcan be moved in two axes, a Z-axis stage that can be adjusted manually, a motor controller, anda lead shielded container. We implemented a XRF data acquisition software to control the motor,and acquire the XRF spectrum at each pixel. Up to 3-inch in diameter sample can be mountedon the sample holder. An XRF spectrum was obtained using a our CdZnTe wafer fabricatedwith Bridgman method, and elemental distributions of Cd, Zn, and Te on the wafer surface weremapped successfully.

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