메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류
인문학
인문학 일반 역사학 철학 종교학 어문학 기타 인문학
사회과학
사회과학 일반 경영학 관광학 교육학 군사학 문헌정보학 법학 사회학 신문방송학 심리과학 정치외교학 지리학 행정학 경제학 무역학 인류학 기타 사회과학
자연과학
자연과학 일반 물리학 생물학 생활과학 수학·통계학 천문학 지구과학 화학 기타 자연과학
공학
공학 일반 건축공학 기계공학 산업공학 재료·에너지공학 전기전자공학 조선해양공학 화학공학 컴퓨터학 기타공학
의약학
의학 일반 간호학 수의학 약학 한의학 기초의학 임상의학 기타 의약학
농수해양학
농수해양학 일반 농학 수산학 식품과학 임학 축산학 해상운송학 기타 농수해양학
예술체육학
예술 일반 디자인 미술 미용 사진 음악학 의상 체육 공연매체예술 기타 예술체육학
복합학
학제간연구 과학기술학 뇌인지과학 기술정책 기타 복합학

ENG

추천
검색
질문

논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
저널정보
한국통신학회 한국통신학회논문지 한국통신학회논문지 제33권 제6호(통신산업응용)
발행연도
2008.6
수록면
201 - 206 (6page)

이용수

표지
📌
연구주제
📖
연구배경
🔬
연구방법
🏆
연구결과
AI에게 요청하기
추천
검색
질문

초록· 키워드

오류제보하기
본 논문은 SOI DTMOS 소자의 온도에 따라 hot carrier에 의해 유발되는 소자열화 현상에 대한 연구를 수행한 것으로서, 낮은 스트레스 게이트 전압과 높은 스트레스 게이트 전압 두 가지를 인가하였다. 낮은 gate전압에서 고온으로 stress된 소자의 열화현상은 보다 높은 gate전압에서 낮은 온도로 stress된 소자의 열화보다 큼을 알 수 있었다. 그리고 DTMOS 소자와 PD MOS 소자의 온도에 따른 hot carrier영향을 비교·분석하였으며, PD MOS소자와 비교하여 DTMOS 소자의 열화가 적은 것은 gate와 body사이의 연결에 의한 문턱전압의 감소를 초래하는 lateral electric field의 감소에 의한 것임을 알 수 있었다.
#SOI DTMOS #Hot Carrier #Degradation #Temperature #PD MOS

목차

요약
ABSTRACT
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 연구방법
Ⅲ. 연구결과 및 고찰
Ⅳ. 결론
참고문헌

참고문헌 (0)

참고문헌 신청
참고문헌이 DBpia에서 서비스 중이라면, [참고문헌 신청]을 통해 등록해보세요

함께 읽어보면 좋을 논문

논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!

이 논문의 저자 정보

이 논문과 함께 이용한 논문

열화특성을 이용한 메탈라이즈드 폴리프로필렌 필름 커패시터의 수명예측
김경동 ,  이정우 ,  손영갑 외 3명 대한기계학회 춘추학술대회 2007 .10
Li-ion 배터리의 SEI층에 의한 열화 매커니즘 분석
박일규 ,  김대식 ,  차한주 대한전기학회 학술대회 논문집 2012 .11
외부환경에 따른 플렉서블 유기 박막 트랜지스터의 특성변화 연구
김태경 ,  서규원 ,  김용상 대한전기학회 학술대회 논문집 2017 .10

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0

UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2009-567-014981769