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Abstract
1. 서론
2. 시뮬레이션
3. 결과 및 토의
4. 결론
감사의 글
참고문헌
저자소개
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Planar MOSFET에서 측정을 통한 순수한 Gate Induced Drain Leakage (GIDL) 추출 방법
대한전자공학회 학술대회
2015 .06
p-MOSFET에서 동작상태 스트레스에 따른 게이트에 유기된 드레인 누설(GIDL) 전류의 효과
대한전자공학회 학술대회
1994 .07
p-MOSFET에서 동작상태 스트레스에 따른 게이트에 유기된 드레인 누설 ( GIDL ) 전류의 효과 ( The Effect of Gate-Induced Drain Leakage ( GIDL ) Current with On-state stress in p-MOSFETs )
대한전자공학회 학술대회
1994 .07
MOSFET I-V 그래프에서 단일트랩이 GIDL current에 미치는 영향분석
대한전자공학회 학술대회
2015 .06
Gate-Induced Drain Leakage를 줄인 새로운 구조의 고성능 Elevated Source Drain MOSFET에 관한 분석 ( Analysis of a Novel Elevated Source Drain MOSFET with Reduced Gate-Induced Drain Leakage and High Driving Capability )
전자공학회논문지-SD
2001 .06
모스 트랜지스터에서 드레인-게이트 중첩영역의 게이트-유기-드레인-누설 ( GIDL ) 전류 열화 ( Gate-Induced-Drain-Leakage ( GIDL ) Current Degradations of Drain-gate Overlap Region in MOSFET's )
대한전자공학회 학술대회
1995 .11
모스 트랜지스터에서 드레인-게이트 중첩영역의 게이트-유기-드레인-누설(GIDL) 전류 열화
대한전자공학회 학술대회
1995 .12
산화막 변화에 의한 p-MOSFET에서 게이트에 유기된 드레인 누설 ( GIDL ) 전류 ( GIDL Current Effects in p-MOSFET's by gate oxide variation )
대한전자공학회 학술대회
1994 .01
Quantum Simulation을 이용한 Silicon Channel 두께와 Doping이 Double Gate MOSFET 소자의 GIDL 특성에 미치는 영향 분석
대한전자공학회 학술대회
2010 .06
선택 실리콘 증착에 의해 제조된 Raised Source / Drain MOSFET의 전기적 특성 ( Electrical Characteristics of Raised Source / Drain MOSFET fabricated by Selective Silicon Deposition )
대한전자공학회 학술대회
1994 .01
EPS용 MOSFET 드레인 전류 측정 방법에 관한 연구
한국자동차공학회 춘 추계 학술대회 논문집
2008 .11
전력 MOSFET
전기의세계
1985 .05
p-MOSFET에서 NBTI 스트레스의 GIDL 전류에 대한 영향 분석
한국통신학회 학술대회논문집
2008 .11
Comparison of GIDL mechanism between MOSFET and FinFET
ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications
2015 .06
Optimizing Effective Channel Length to Minimize Short Channel Effects in Sub-50 ㎚ Single/Double Gate SOI MOSFETs
JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE
2008 .06
MOSFET에서 게이트전압에 의존하는 소오스 / 드레인 저항을 추출하는 간단한 방법 ( Simple Extraction Method for Gate-Voltage Dependent Source / Drain Resistance in MOSFETs )
대한전자공학회 학술대회
1990 .07
Symmetric high voltage MOSFET의 extended source/drain 길이에 따른 전기적 특성의 고온영역 신뢰성 분석
대한전자공학회 학술대회
2003 .11
Instability in GIDL Current of Thermally-Nitrided-Oxide N-MOSFET's
ICVC : International Conference on VLSI and CAD
1991 .01
전력 MOSFET 소자의 γ선 영향
제어로봇시스템학회 각 지부별 자료집
2004 .11
드레인 전압변화 스트레스에 의한 P-MOSFET의 열화 특성 ( Degradation Characteristics of p-MOSFET's by Various Drain Voltage stress )
대한전자공학회 학술대회
1994 .01
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