Instability in GIDL Current of Thermally-Nitrided-Oxide N-MOSFET's

Z. J. Ma; P. T. Lai; Y. C. Cheng; M. Q. Huang

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자료유형: 학술대회자료

저자정보: Z. J. Ma P. T. Lai Y. C. Cheng M. Q. Huang

저널정보: 대한전자공학회 ICVC : International Conference on VLSI and CAD ICVC : International Conference on VLSI and CAD 제2권

발행연도: 1991.1

수록면: 191 - 194 (4page)

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