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N2O 질화산화막을 갖는 MOS 캐패시터의 TDDB 특성 ( TDDB Properties of MOS Capacitors with N2O Oxynitride Layer )
대한전자공학회 학술대회
1993 .11
얇은 산화막의 광 조사후 TDDB특성에 관한 연구 ( The reserch on the TDDB of thin film after the irradiation )
대한전자공학회 학술대회
1989 .11
정전류 Stress 하에서의 얇은 산화막의 TDDB 특성 ( The TDDB Characteristics of Thin Si02 under Constant Stress Condition )
대한전자공학회 학술대회
1988 .11
N2O 질화산화막을 갖는 MOS 캐패시터의 TDDB 특성
대한전자공학회 학술대회
1993 .11
스트레스전압 극성에 따른 얇은 산화막의 TDDB 특성 ( The TDDB Characteristics of Thin SiO2 with Stress Voltage Polarity )
전자공학회논문지
1989 .05
N / O ( Si3N4 / SiO2 ) 유전막의 Tddb 특성에 미치는 상부산화조건의 영향 ( Effects of Top OxIdation Condition on Tddb Characteristics of N / O ( Si3N4 / SiO2 ) Dielectric Films )
대한전자공학회 학술대회
1990 .11
N/O(Si₃N₄/SiO₂) 유전막의 TDDB 특성에 미치는 상부산화조건의 영향
대한전자공학회 학술대회
1990 .11
The Impact of TDDB Failure on Nanoscale CMOS Digital Circuits
한국산업정보학회논문지
2012 .09
HK/MGFET’s 의 Accumulation TDDB Modeling
한국정밀공학회 학술발표대회 논문집
2016 .05
얇은 절연막의 TDDB 분석과 전기적 특성
산업기술연구 : 강원대학교 산업기술연구소
1988 .01
온도 의존성을 반영한 개선된 TDDB 수명 예측 모델 개발
대한전자공학회 학술대회
2019 .06
Reliability Analysis Framework for Time Dependent Dielectric Breakdown
JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE
2020 .02
Analysis of Time Dependent Dielectric Breakdown in Nanoscale CMOS Circuits
대한전자공학회 ISOCC
2011 .11
독도 화산의 화산형태 복원
한국광물학회.한국암석학회 공동학술발표회 논문집
2004 .01
The Effects of NO-nitridation of Gate Oxide on Qbd and TDDB under Dynamic Stress
전기학회논문지
1998 .01
얇은 산화막의 TDDB특성과 막내의 결함과의 상관성
대한전기학회 학술대회 논문집
1988 .11
지형기복에 기초한 화쇄류, 화산이류, 화산성홍수의 피해범위 예측
한국방재학회 학술대회
2013 .01
건축자재소개
건축사
1982 .01
백두산 화산분화재난이 한국의 항공수요와 관광산업에 미치는 영향연구
한국방재학회 학술대회
2014 .01
화산분화재난이 육상교통에 미치는 영향조사 및 분석
한국방재학회 학술대회
2013 .01
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