정전류 Stress 하에서의 얇은 산화막의 TDDB 특성 ( The TDDB Characteristics of Thin Si02 under Constant Stress Condition )

김천수 ,  이경수 ,  남기수 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1988 .11

얇은 산화막의 광 조사후 TDDB특성에 관한 연구 ( The reserch on the TDDB of thin film after the irradiation )

김재호 ,  성영권

대한전자공학회 학술대회

1989 .11

N / O ( Si3N4 / SiO2 ) 유전막의 Tddb 특성에 미치는 상부산화조건의 영향 ( Effects of Top OxIdation Condition on Tddb Characteristics of N / O ( Si3N4 / SiO2 ) Dielectric Films )

고재석 ,  구경완 ,  조동율 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1990 .11

N/O(Si₃N₄/SiO₂) 유전막의 TDDB 특성에 미치는 상부산화조건의 영향

고재석 ,  구경완 ,  조동율 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1990 .11

얇은 절연막의 TDDB 분석과 전기적 특성

박찬원 ,  김복헌

산업기술연구 : 강원대학교 산업기술연구소

1988 .01

N2O 질화산화막의 성장 방법 및 면적에 따른 TDDB 특성

정태식 ,  김재영 ,  이상돈 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1994 .01

The Impact of TDDB Failure on Nanoscale CMOS Digital Circuits

Yeon-Bo Kim ,  Kyung Ki Kim

한국산업정보학회논문지

2012 .09

HK/MGFET’s 의 Accumulation TDDB Modeling

남종익 ,  사공현철 ,  김혜진 외 5명

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2016 .05

N2O 질화산화막을 갖는 MOS 캐패시터의 TDDB 특성 ( TDDB Properties of MOS Capacitors with N2O Oxynitride Layer )

이풍엽 ,  이상돈 ,  김봉열

대한전자공학회 학술대회

1993 .11

Reliability Analysis Framework for Time Dependent Dielectric Breakdown

Ki ,  on Pa ,  k 외 6명

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2020 .02

온도 의존성을 반영한 개선된 TDDB 수명 예측 모델 개발

Ki ,  on Pa ,  k 외 2명

대한전자공학회 학술대회

2019 .06

The Effects of NO-nitridation of Gate Oxide on Qbd and TDDB under Dynamic Stress

金正圭

전기학회논문지

1998 .01

얇은 산화막의 TDDB특성과 막내의 결함과의 상관성

성영권 ,  최종일 ,  김상영 외 1명

대한전기학회 학술대회 논문집

1988 .11

Analysis of Time Dependent Dielectric Breakdown in Nanoscale CMOS Circuits

Ho Joon Lee ,  Kyung Ki Kim

대한전자공학회 ISOCC

2011 .11

N₂O 질화산화막을 갖는 MOS 캐패시터의 TDDB 특성

이풍엽 ,  이상돈 ,  김봉열

대한전자공학회 학술대회

1993 .11

전압원 인버터 Leg에 대한 출력 전압 극성 검출식 베이스/게이트 구동 억제 방법

박인규

대한전기학회 학술대회 논문집

1995 .11

Analysis of Gate-Oxide Breakdown in CMOS Combinational Logics

김경기

센서학회지

2019 .01

잔류자기 유도 기전력을 이용한 3상유도전동기 권선의 극성 판별법에 관한 연구

최순만

Journal of Advanced Marine Engineering and Technology (JAMET)

2014 .11

나노미터 디지털회로의 노화효과를 보상하기위한 새로운 적응형 회로 설계

김경기

한국산업정보학회논문지

2013 .12

Si$O_{2}/{Si}_{0.7}{Ge}_{0.3}/SiO_{2}$계에서의 계면응집현상에 의한 양자점 형성에 관한 연구

윤태식 ,  권장연 ,  이동훈 외 2명

한국재료학회 학술발표대회

1997 .01