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논문 기본 정보

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저자정보
Chandreswar Mahata (Yonsei University) Taeyoon Lee (Yonsei University)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 2015년도 대한전자공학회 하계종합학술대회
발행연도
2015.6
수록면
38 - 41 (4page)

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Amorphous Ta₁-xZrxO/SiO₂ composite gate dielectric film and SiO₂ passivation layer are deposited on InP substrate by atomic layer deposition. The interfacial chemical, physical, and electrical properties of the Ta₁-xZrxO/InP and Ta₁-xZrxO/SiO₂/InP MOS structures are compared in details. Electrical conduction properties combined with chemical bonding analysis with x-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and transmission electron microscopy (TEM) were examined. Effect on Indium diffusion through Ta₁-xZrxO high-k gate dielectrics were minimized by SiO₂ passivation layer. Significant reduction of the interfacial In and P oxide layer thickness and effectively reduces the interface trap states and thus unpin the Femi level, resulting from indium diffusion upon SiO₂ passivation, is confirmed by the parallel conductance contour plot.

목차

Abstract
Ⅰ. Introduction
Ⅱ. Experiments
Ⅲ. Results and Discussions
Ⅲ. Conclusion
References

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