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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 2024.6
- 수록면
- 538 - 542 (5page)
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This paper proposes a method for optimizing the performance and power of SRAM designs using Bayesian Optimization. The proposed approach enables cost savings in verifying various PVT (Process, Voltage, Temperature) corners through Corner Reduction. This method efficiently reduces the number of corners that need to be verified, thereby saving resources and reducing overall costs. Additionally, by utilizing Multihead- Suggestion, it facilitates faster access to optimal points compared to conventional methods. Through the proposed methodology, the optimization of SRAM results in an average reduction of 16.32% in power consumption across each corner, 1.73% improvement in cycle time, and 2.29% decrease in access time, without violating margins.
목차
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
Ⅲ. 구현
Ⅳ. 결론 및 향후 연구 방향
참고문헌
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