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임계경로 추적을 이용한 VLSI회로의 지연 테스트 생성 알고리듬
대한전자공학회 학술대회
1993 .11
VLSI의 임계경로 선택
대한전자공학회 학술대회
1997 .11
VLSI의 임계경로 선택 ( A Critical Path Selection in VLSI )
대한전자공학회 학술대회
1997 .11
블록 효과 감소 알고리듬의 VLSI 회로 구현
한국멀티미디어학회 학술발표논문집
2002 .11
VLSI의 설계검증을 위한 계층적 회로 추출 알고리듬 ( Hierarchical Circuit Extract Algorithm for VLSI Design Verification )
전자공학회논문지
1988 .08
VLSI 회로 테스트 자동 생성 시스템
대한전자공학회 학술대회
1997 .01
VLSI 회로의 테스트 패턴 생성 기술
전자공학회지
1995 .12
A Path-Delay Test Generator for Large VLSI Circuits
ICVC : International Conference on VLSI and CAD
1993 .01
VLSI Design of HAS-160 Algorithm
ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications
2003 .07
VLSI Design
대한전자공학회 단기강좌
1983 .01
고속 VLSI 회로에서 전송선의 지연시간 모델
대한전자공학회 학술대회
1999 .11
테스트 패턴 생성이 용이한 VLSI 논리 설계 방식 ( A VLSI Logic Design Structure for Reduction of Test pattern Generation Effort )
대한전자공학회 학술대회
1985 .01
VLSI의 신뢰성 ( Reliability Issues in VLSI )
대한전자공학회 학술대회
1987 .05
블록 정합 알고리듬의 효율적인 VLSI설계 ( An Efficient VLSI Implementation for Block Image Algorithm )
대한전자공학회 학술대회
1994 .01
VLSI설계와 CAD기술개발
전자진흥
1985 .01
VLSI 한계
대한전자공학회 단기강좌
1983 .01
VLSI 설계 자동화에 대한 연구
제어로봇시스템학회 국내학술대회 논문집
1986 .10
VLSI System CAD에 관한 硏究
한국통신학회논문지
1983 .04
VLSI 설계자동화 시스템을 위한 순서회로의 최적상태코드 할당 알고리듬 ( An Optimal State-Code Assignment Algorithm of Sequential Circuits for VLSI Design Automation Systems )
전자공학회논문지
1989 .01
VLSI 자동설계기술 ( Design Automation for VLSI )
대한전자공학회 학술대회
1987 .01
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