Reduction of Test Data and Power in Scan Testing for Digital Circuits using the Code-based Technique

허용민 ,  신재흥

전자공학회논문지-IE

2008 .09

테스트 시간과 테스트 전력 감소를 위한 선택적 세그먼트 바이패스 스캔 구조

양명훈 ,  김용준 ,  박재석 외 1명

전자공학회논문지-SD

2009 .05

저전력 테스트를 고려한 효율적인 테스트 데이터 압축 방법

전성훈 ,  임정빈 ,  김근배 외 2명

전자공학회논문지-SD

2005 .02

Low power scan testing and efficient test data compression for System-On-a-Chip

Jun Mo Jung ,  Jong-Wha Chong

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

2002 .07

Efficient Test Data Compression and Low Power Scan Testing in SoCs

Jun-Mo Jung ,  Jong-Wha Chong

[ETRI] ETRI Journal

2003 .10

저전력을 고려한 스캔 체인 구조 변경

金吝洙 ,  閔炯福

전기학회논문지 D

2005 .07

저 진력을 고려한 스캔 체인 수정에 관한 연구

박수식 ,  김인수 ,  정성원 외 1명

한국정보과학회 학술발표논문집

2005 .11

테스트 데이터와 전력소비 단축을 위한 저비용 SOC 테스트 기법

허용민 ,  인치호

전자공학회논문지-SD

2004 .12

지연고장 검출을 위한 LOS/LOC 스캔 테스트 기술

허용민 ,  최영철

한국인터넷방송통신학회 논문지

2014 .01

A New Low Power Scan Architecture Considering Test Data Compression

Hong-Sik Kim ,  Beom Ik Cheon ,  Kyu-Myung Choi 외 1명

대한전자공학회 ISOCC

2006 .10

BIST 환경에서의 천이 억제 스캔 셀 구조

김인철 ,  송동섭 ,  김유빈 외 2명

전자공학회논문지-SD

2006 .06

테스트 패턴 재구성을 이용한 NoC(Network-on-Chip)의 저전력 테스트

정준모

한국산학기술학회 논문지

2007 .04

구조분석과 테스트 가능도의 통합에 의한 부분스캔 설계

박종욱 ,  신상훈 ,  박성주

정보과학회논문지(A)

1999 .09

SoC환경에서의 저전력 테스트를 고려한 테스트 패턴 압축에 대한 효율적인 알고리즘

신용승 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2004 .09

An Efficient Technique to Improve Compession for Low-Power Scan Test Data

송재훈 ,  김두영 ,  김기태 외 1명

전자공학회논문지-SD

2006 .10

Signal Integrity 연결선 테스트용 다중천이 패턴 생성방안

김용준 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2008 .10

효율적인 LFSR 리시딩 기반의 테스트 압축 기법

김홍식 ,  김현진 ,  안진호 외 1명

전자공학회논문지-SD

2009 .03

저전력 움직임 추정을 위한 데이터 재사용 스캔 방법

김태선 ,  선우명훈

전자공학회논문지

2013 .09

Power on The Fly 를 이용한 수율 향상 스캔 테스트

김대윤 ,  이주환 ,  윤성준 외 1명

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2016 .05