Si₁-xGex p-FinFET에서 주된 누설 전류의 메커니즘 분석

손도균 ,  강덕승 ,  김현석 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2015 .06

Comparison of GIDL mechanism between MOSFET and FinFET

Duckseoung Kang ,  Dokyun Son ,  Hyunsuk Kim 외 2명

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

2015 .06

Low Leakage III-V/Ge CMOS FinFET Design for High-Performance Logic Applications with High-k Spacer Technology

Esan Jang ,  Sunhae Shin ,  Jae Won Jeong 외 1명

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2018 .06

n-FinFET과 p-FinFET의 스페이서 길이에 따른 충돌이온화 특성 비교

김현수 ,  서영수 ,  김종수 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2015 .06

Fin 두께에 따른 Bulk FinFET의 IV 특성 분석

김현석 ,  손도균 ,  강덕승 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2015 .11

Si Bulk-FinFET의 게이트 길이 감소에 따른 비이상적인 커패시턴스-전압 특성 분석

김현수 ,  서영수 ,  김종수 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2015 .11

Development of Wider Bandgap n-type a-SiOx:H and μc-SiOx:H as Both Doped and Intermediate Reflecting Layer for a-Si:H/a-Si1-xGex:H Tandem Solar Cells

Po-Wei Chen ,  Pei-Ling Chen ,  Chuang-Chuang Tsai

Electronic Materials Letters

2016 .01

Effects of Trapezoidal Fin Shape on Performance of Negative-capacitance FinFETs

Mengjie Zhao ,  Weifeng Lü ,  Ziqiang Xie 외 2명

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2022 .10

오프 상태 스트레스에 의한 에이징된 P형 Poly-Si TFT에서의 GIDL 전류의 특성

신동기 ,  장경수 ,  Nguyen Thi Cam Phu 외 4명

전기전자재료학회논문지

2018 .09

Self Heating Effects in Sub-nm Scale FinFETs

Khushabu Ag ,  awal ,  Vilas Patil 외 7명

전기전자재료학회논문지

2020 .01

Analysis of Gate Induced Drain Leakage in PMOS SiGe FinFETs under Various Dit Conditions

Hyunsuk Kim ,  Dokyun Son ,  Sangbin Jeon 외 2명

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

2015 .06

FinFET Technology에 적합한 다양한 해상도를 갖는 시간-디지털 변환기 설계

정우송 ,  정덕균

대한전자공학회 학술대회

2022 .06

Strained Si on Insulator as Potential Material for Forced Stacked Multi-threshold FinFET Based Inverter Considering Ultra Low-Power Applications

Sangeeta Singh ,  Shashank Dubey ,  Sau 외 3명

Transactions on Electrical and Electronic Materials

2019 .01

Analysis of GIDL Erase Characteristics in Vertical NAND Flash Memory

Ho-Nam Yoo ,  Yeongheon Yang ,  Min-Kyu Pa 외 3명

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2023 .06

FinFET의 Fin Width와 Height에 따른 TID Effect

구득희 ,  원현재 ,  강명곤

대한전자공학회 학술대회

2019 .11

실제적 구조를 가진 벌크 및 SOI FinFET에서 발생하는 동적 self-heating 효과

유희상 ,  정하연 ,  양지운

전자공학회논문지

2015 .10

Source/Drain 상단 Contact을 갖는 Bulk FinFET의 Fin 높이가 On-Current 특성에 미치는 영향

최문정 ,  김상완

대한전자공학회 학술대회

2020 .11

I/O FinFET에서 로컬도핑에 대한 고온캐리어 열화 효과 분석

서영수 ,  김현수 ,  김종수 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2015 .06

Nanowire FET에서 채널과 기판 사이 산화막 두께와 도핑에 따른 GIDL 분석

김신근 ,  서영수 ,  강명곤 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2016 .11